物质非平衡合成与调控教育部重点实验室
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所在位置:结构表征
 结构表征

设备名称:热场发射扫描电子显微镜(SEM)


详细介绍
型号:JEOL JSM7000F
功能:最高加速电压30Kv,最大放大倍数65万倍,分辨率1.5nm。配有二次电子探头、背散射电子探头、能谱仪以及STEM附件。可用于材料的表面形貌分析和成分分析。
负责人:王力群 
联系方式:029-82663341
   wanglq@mail.xjtu.edu.cn
放置地点:理科楼135室

 



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